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分光光度计	辐射测量系统	膜厚测量系统	单色仪	色度测量系统	光源
液体测量系统	比色法成套测试系统	OEM系统	探测器

产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	TRISTAN 桌式分光光度计 TRISTAN light 系列	光学性能与TRISTAN 5相同，全电脑控制。基本运算功能 有加、减、乘、除，背景衰减，峰值确定，峰值显示，综合 两条游标之间数据等。
	便携式分光光度计 tristan 5	256色的触摸屏控制，内置32位CPU，4MB的RAM，12位数模转换器（自选16位）； 配有TRIWin2.0软件，MyInstrument驱动（Excel、LabView、GRAMS/AI等）。 它是户外的光谱测试的理想选择，测量结果可以立即显示出来。无需电脑控制，对测量结果的信息处理和光谱信息的存储直接由分光光度计完成。
	液体测量系统 30-105535	M.U.T的液体分析套件可通过传递、反射测试或荧光测试来分析化学反应或检测色彩质量等。此套件基于TRISTAN 5 所开发，所以不需要额外的PC机用来控制。它能在运行后几分钟内就显示出结果。
	辐射测量系统 30-105527-32	积分球套件是将积分球的表面涂上高散射和反射材料以完成反射率和传递率的测试。其中附加的算法把实际值与绝对值比较来算出最终结果。 余弦校准套件是用余弦校准器将180度角的光线修正到正好射入光纤线的入口处，因此减小了由光纤孔径大小带来的影响。
	比色法成套测试系统 30-105069/26	它提供了在工业应用领域内最好的过程操作工具和QA比色测试元件。这个系统为用户提供了在测试时的全自动控制,测试过程中的智能向导,即装即用型的数字界面以及彩色图表,历史测试过程存储等功能。
	膜厚测量系统 30-103813/105533/102751	此套件可以测量以全反射材质制成的层厚为0.1至2.0um的透明或全透明层的层厚。M.U.T的层厚套件适用于材质特性的定义以及测试附着材料到3层以内的层厚。它适用于工业领域的过程控制和QA测试。通过PTFE保护环可以实现非接触式测量。
	光学引擎 OEM	the detailed producet specification asked for us
	单色仪 101/102	the detailed producet specification asked for us
	探测器 NIR	the detailed producet specification asked for us
	探测器 TCQ	the detailed producet specification asked for us
	实时测量系统 COD	the detailed producet specification asked for us
	可调谐光源 SID201/202	the detailed producet specification asked for us

联系方式 联 系 人：销售部 联系电话：010-69528644/69554867 传真电话：010-69516137

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