膜厚测量系统

北京光学仪器厂

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产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	膜厚测量系统 30-103813/105533/102751	此套件可以测量以全反射材质制成的层厚为0.1至2.0um的透明或全透明层的层厚。M.U.T的层厚套件适用于材质特性的定义以及测试附着材料到3层以内的层厚。它适用于工业领域的过程控制和QA测试。通过PTFE保护环可以实现非接触式测量。

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